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La plateforme documentaire du CTIFL
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Article

H 0 00081008
COMPUTER VISION BASED SYSTEM FOR APPLE SURFACE DEFECT DETECTION

L

LI (Q), WANG (M), GU (W)

CN/UNIV ZHEJIANG, CN/RESEARCH CENTRE FOR PRECISION AGRICULTURE BEIJING

COMPUTERS AND ELECTRONICS IN AGRICULTURE

2002

36

P. 215-223

anglais, illus., TABL_>6TABL, biblio.

B8 01

mesure non destructive, qualité du produit frais, instrumentation, défaut d'aspect

POMME

VISION ARTIFICIELLE

06/09/2005

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