Producteur : B

Auteur : MCCABE (B)

Périodique : AMERICAN VEGETABLE GROWER

Date de parution : 2004

Volume : 52

Numéro : 8

Pagination : P. 10-12

Collation : graph., anglais

Résumé : Aux Etats-Unis , l'oïdium , causé par Erysiphe cichoracearum et Podosphaera xanthii , provoque des dégâts importants en culture de courge. Présentation de conseils pour réduire le risque de développement de résistance de ce pathogène contre les produits phytosanitaires. Comparaison de l'efficacité de divers fongicides autorisés aux Etats-Unis. La maladie est plus répandue en culture de courge , en comparaison avec d'autres cucurbitacées , puisqu'il existe peu de résistance génétique chez cette espèce.

Mots-clés : champignon pathogène, fongicide, résistance au pesticide

Espèce : COURGE

Pays / Région : ETATS-UNIS

Pathogène / Auxiliaire : Erysiphe cichoracearum DC. ex MERAT

Candidat mots-clés : ES/CUCURBITACEAE, C/PODOSPHAERA XANTHII

Date d'indexation : 14/10/2004